LeTID (Lightand elevated Temperature Induced Degradation)，業(yè)界稱為“光照和高溫誘導(dǎo)衰減”，或者叫“光熱衰減”。名稱有些拗口，但是值得大家花些時間去了解它，因為它會極大地影響你的太陽能組件和電站發(fā)電性能。

光伏行業(yè)對LID(Light Induced Degradation)，也就是“光致衰減”現(xiàn)象已經(jīng)很了解。通常情況下，只要光伏組件暴露在陽光下就會發(fā)生LID(光致衰減)，在短時間(幾天或幾周)內(nèi)就能達到飽和的衰減。行業(yè)對于LID(光致衰減)的研究也已經(jīng)非常充分，產(chǎn)生機制也獲得一致認可，主要是硅材料內(nèi)的硼氧缺陷。因為晶體生長方法的差異，單晶硅材料內(nèi)間隙氧含量遠高于多晶，從而LID衰減也遠高于多晶。兩到三年前PERC技術(shù)的推廣還受限于LID(光致衰減)，隨著抗LID衰減技術(shù)的突破使LID得到比較有效的控制，加之設(shè)備的廣泛應(yīng)用，PERC技術(shù)得以大規(guī)模導(dǎo)入。

然而LeTID衰減機制不同，它通常發(fā)生在光照和高溫(> 50°C)兩個條件同時滿足的情況下，并且LeTID對于PERC組件的發(fā)電量影響很大。PERC組件在實驗室的測試條件和電站實際工作環(huán)境中都存在LeTID(光熱衰減)現(xiàn)象。在組件工作溫度超過50°C時，不論是單晶還是多晶PERC組件都會發(fā)生LeTID(光熱衰減)，衰減率最高可達10%。

文章來源：阿特斯